「FLIR A6700系列中波紅外線科學研發用MWIR InSb熱像儀：解鎖高效能電子設計的關鍵利器！」

隨著對全球綠色能源和數位轉型計劃的需求不斷增加，對電子元件和散熱系統的高效設計及驗證測試需求逐漸成為不可或缺的一部分。在這一過程中，熱成像技術具有至關重要的地位。這種技術能夠提供準確的溫度資訊，有助於解決潛在的問題、優化熱效率，甚至識別可能存在的假冒組件。這種精密的熱成像在確保電子系統可靠性、效能和安全性方面扮演著至關重要的環節。FLIR A6701熱像儀具備15µm像素間距感測器，以及≤20mK的熱靈敏度，再搭配不同倍數的顯微鏡頭，可清晰且清楚記錄下最微小細微的溫差變化現象，這是各種電子設計和測試應用的理想解決方案。當量測高速動態溫度變化時制冷式熱像儀可切換為高偵速視窗模式，在視窗模式下操作時，可支援每秒高達480幀的圖像幀速率，毫秒之間的溫差變化更是量測關鍵所在。

將 640 × 512 高解析度的 FLIR A6701 與MWIR 微距鏡頭和專用支架整合，可提供適用於各種電子組件和子組件的靈活系統，同時提供精確測量各個表面貼裝組件溫度所需的小空間解析度。在 110mm的最小工作距離下，它可以提供總共 21.2mm x 16.9mm的量測範圍視野，單一像素解析度可達到 33µm。

FLIR A6701 MWIR 套件，附 1X 顯微鏡鏡頭和支架

1X MWIR 顯微鏡鏡頭與FLIR A6701 MWIR相機結合使用，可以幫助研究人員和工程師透過發現積體電路中的微小熱異常或測量單一組件發出的熱量來提高電氣效率。顯微鏡支架可穩定整個系統，最近對焦距離可以涵蓋 9.6mm x 7.68mm 目標區域的清晰影像，單一像素解析度可達到 15µm。

FLIR Research Studio 提供強大的記錄和分析功能，並搭載直觀的使用者介面，適用於各種研究和開發應用。研究人員可以捕獲精確的熱數據，並以標准文件格式與同事快速共享。軟體提供多種語言以及支援各種作業系統(Windows、MacOS、Linux)，以提升團隊成員之間的合作效率。

更多規格，可點擊：FLIR A6700/A6701/A6702/A603MWIR

欲知更多詳情可電洽： 02-2286-0188 OR email: sales@pdic.com.tw