• 低頻磁場場強計/高斯計
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低頻磁場場強計/高斯計

型號 : C.A 40

  • C.A 40為特斯拉計/高斯計,適用於實驗室及生產現場 – 須要調整磁場時。
  • 低頻磁場測量範圍:20µT – 2000µT(200mG – 20,000mG),典型精度±(4% rdg +3 ct)。
  • 頻寬:30 – 300Hz。
  • 2,000點數位LCD顯示幕。
  • 容易操作的單向探頭。
  • 能快速評估在您所有器具裝置上的輻射位準。
  • 系統簡介:
    • C.A 40為操作超簡單的高斯計,特別設計適用於0.1mG與200mG之間的電磁場測量。
    • 藉著評估數值,確認場的存在,再精準的搜尋干擾來源。
    • C.A 40標準配備一台測量主機及一支外部環境場測量探棒。
    • 感測器是在一個單軸上極化,偵測範圍包括50/60Hz工業電流及其諧波。



  • C.A 40規格:
顯示幕 13mm LCD,3½點。
範圍 / 解析度 20µT / 0.01µT
200µT / 0.1µT
2000µT / 1µT
* 1μT=10mG
頻寬 30Hz – 300Hz
軸數 單軸
精度 ±(4% +3 ct)@20µT範圍
±(5% +3 ct)@200µT範圍
±(10% +5 ct)@2000µT範圍
* 環境條件:
1. 50/60Hz。
2. 射頻場位準<3V/m及<30MHz。
過範圍 顯示幕顯示“1”
電源 9V DC電池
操作溫度 0 – 50℃
使用 室內使用
電氣安規 IEC 1010
污染等級 2(無污染或僅有乾燥的非導電性污染)
EMC相容性 輻射干擾EN 50081-1
輻射耐受EN 50082-1
重量 285g(含電池)
體積 外殼:163 x 68 x 24mm
探棒:175 x 45 x 22mm

  • C.A 40與C.A 41/C.A.43的比較:
項目/機型 C.A 40 C.A 41 C.A 43
測量 磁場 電場
動態範圍 ~ 2mT 0.1V/m – 200V/m
頻率範圍 30 – 300Hz 100kHz – 2.5GHz
精度 200μT範圍:±(5% +3cts) 0.7V/m - 2dB(依範圍而定)
感測器 單向 等向
資料儲存
體積 163 x 68 x 24mm 216 x 72 x 37mm
重量 285g 350g
  • 詳細規格、配件、軟體及選購,歡迎洽詢。

  • C.A 40為特斯拉計/高斯計,適用於實驗室及生產現場 – 須要調整磁場時。
  • 低頻磁場測量範圍:20µT – 2000µT(200mG – 20,000mG),典型精度±(4% rdg +3 ct)。
  • 頻寬:30 – 300Hz。
  • 2,000點數位LCD顯示幕。
  • 容易操作的單向探頭。
  • 能快速評估在您所有器具裝置上的輻射位準。

  • C.A 40為特斯拉計/高斯計,適用於實驗室及生產現場;偵測範圍包括50/60Hz工業電流及其諧波。
  • 低頻磁場測量範圍:20µT – 2000µT(200mG – 20,000mG),典型精度±(4% rdg +3 ct)。


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