科研級高解析長波段紅外線熱像儀
型號 :
X8580 SLS™ 7.5-12µm f/2.5/4.1
- FLIR X8580 SLS™為高速、高解析長波段紅外線熱像儀，專設計適用於需要拍攝詳細的快速活動影像、進行特定輻射性測量或偵測複合材料、太陽能電池及電子元件內故障點的科學家與工程師。
- FLIR X8580 SLS™紅外線熱像儀結合了SLS偵測器1280ｘ1024像素解析度及高速影像更新率，可提供更短的快照速度和寬廣的溫度範圍，以記錄高速活動的清晰定格運動影像。
- FLIR X8580 SLS™配備4段電動濾光片輪，並支援FLIR電動對焦鏡頭，可提供更高品質的記錄、節省時間及減輕在動態拍攝環境下的挫折感。
- 高解析度、高速：
- 以比中波段InSb熱像儀短10倍的影像積分時間（環境溫度下），捕捉全高清1280x1024像素解析度熱影像。
- 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟：
- 可直接記錄長達34秒全高清解析度資料到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
- 多種軟體介面：
- 可直接串流傳輸熱數據到電腦，以使用FLIR Research Studio軟體進行查看、記錄及分析。
| 機型 | X8581 SLS 7.5-12µm f/2.5 | X8583 SLS 7.5-12µm f/4.1 | |
| 解析度 | 1280 x 1024 | ||
| 偵測器間距 | 12µm | ||
| 光譜範圍 | 7.5 µm（下限），11.5 – 12.5µm（上限） | ||
| 偵測器類型 | 應變層超晶格（SLS） | ||
| F值 | 2.5 | 4.1 | |
| 動態範圍 | 14位元 | ||
| 熱靈敏度NETD | 典型40mK | ||
| 全視窗影像更新率 | 可設定~0.5Hz – 181Hz | ||
| 影像積分時間 | 可設定270ns – 全畫面 | ||
| 標準溫度範圍(搭配匹配波段的鏡頭) | -20°C – +350°C | ||
| 選購的溫度範圍(搭配匹配波段的鏡頭) | ND1: 250°C – 1500°C；ND2: 500°C – 3,000°C | ||
| 濾光片 | 4段電動暖色濾光片輪，標準1吋濾光片，可由使用者調換 | ||
| 對焦 | 電動（可兼容手動） | ||
- 詳細規格、配件、軟體與選購，歡迎洽詢，謝謝。
- 高解析度、高速：
- 以比中波段InSb熱像儀短10倍的影像積分時間（環境溫度下），捕捉全高清1280x1024像素解析度熱影像。
- 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟：
- 可直接記錄長達34秒全高清解析度資料到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
- 多種軟體介面：
- 可直接串流傳輸熱數據到電腦，以使用FLIR Research Studio軟體進行查看、記錄及分析。
