科研級高解析中波段紅外線熱像儀
型號 :
X8580™ InSb 1.5/3.0-5.0µm f/2.5/4.1
- FLIR X8580超高解析中波段紅外線熱像儀，具備優異而足以改變遊戲規則的高階性能，專設計適用於需要拍攝詳細的高速活動影像、進行特定輻射性測量或偵測複合材料、太陽能電池與電子元件內故障點的科學家和工程師。
- FLIR X8580紅外線熱像儀結合了1280ｘ1240像素高清解析度與快速的影像更新率和積分時間，使研究人員能記錄快速移動中的標的物或快速溫度變化的定格影像-無論是在實驗室或測試範圍內。
- FLIR X8580配備4段電動濾光片輪，並支援FLIR電動對焦鏡頭，可提供更高品質的記錄、節省時間及免除在動態拍攝環境下的挫折感。
- 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟：
- 可直接記錄長達34秒的全高清解析度資料影像到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
- 同步及觸發：
- 透過專用的觸發輸入與新型三級同步輸入，能輕易的捕捉基本資料及精準的控制影像畫面的產生。
- 多種軟體介面：
- 可透過任何的數位資料匯流排，直接從固態硬碟串流傳輸熱數據，以使用FLIR Research Studio軟體進行進階的分析。
| 機型 | X8580 InSb 1.5-5.0µm f/2.5 | X8581 InSb 3.0-5.0µm f/2.5 | X8582 InSb 1.5-5.0µm f/4.1 | X8583 InSb 3.0-5.0µm f/4.1 |
| 解析度 | 1280 x 1024 | |||
| 偵測器間距 | 25µm | |||
| 光譜範圍 | 1.5 – 5.0µm | 3.0 – 5.0µm | 1.5 – 5.0µm | 3.0 – 5.0µm |
| 偵測器類型 | 銻化銦(InSb) | |||
| F值 | 2.5 | 4.1 | ||
| 動態範圍 | 14位元 | |||
| 熱靈敏度NETD | 典型30mK | |||
| 全視窗影像更新率 | 可設定~0.5Hz – 181Hz | |||
| 影像積分時間 | 可設定270ns -全畫面 | |||
| 標準溫度範圍（搭配匹配波段的鏡頭） | -20°C – +350°C |
-20°C – +350°C -10°C（顯微鏡） |
-20°C – +350°C |
-20°C – +350°C -10°C（顯微鏡） |
| 選購的溫度範圍（搭配匹配波段的鏡頭） | ND1: 45°C – 600°C；ND2: 250°C – 2,000°C；ND3: 500°C – 3,000°C | |||
| 濾光片 | 4段電動暖色濾光片輪，標準1吋濾光片，可由使用者調換 | |||
| 對焦 | 電動（可兼容手動） | |||
- 詳細規格、配件、軟體與選購，歡迎洽詢，謝謝。
- 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟：
- 可直接記錄長達34秒的全高清解析度資料影像到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
- 同步及觸發：
- 透過專用的觸發輸入與新型三級同步輸入，能輕易的捕捉基本資料及精準的控制影像畫面的產生。
- 多種軟體介面：
- 可透過任何的數位資料匯流排，直接從固態硬碟串流傳輸熱數據，以使用FLIR Research Studio軟體進行進階的分析。
