• 科研級高解析中波段紅外線熱像儀
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科研級高解析中波段紅外線熱像儀

型號 : X8580™ InSb 1.5/3.0-5.0µm f/2.5/4.1

  • FLIR X8580超高解析中波段紅外線熱像儀,具備優異而足以改變遊戲規則的高階性能,專設計適用於需要拍攝詳細的高速活動影像、進行特定輻射性測量或偵測複合材料、太陽能電池與電子元件內故障點的科學家和工程師。
  • FLIR X8580紅外線熱像儀結合了1280x1240像素高清解析度與快速的影像更新率和積分時間,使研究人員能記錄快速移動中的標的物或快速溫度變化的定格影像-無論是在實驗室或測試範圍內。
  • FLIR X8580配備4段電動濾光片輪,並支援FLIR電動對焦鏡頭,可提供更高品質的記錄、節省時間及免除在動態拍攝環境下的挫折感。
  • 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟:
    • 直接記錄長達34秒的全高清解析度資料影像到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
  • 同步及觸發:
    • 透過專用的觸發輸入與新型三級同步輸入,能輕易的捕捉基本資料及精準的控制影像畫面的產生。
  • 多種軟體介面:
    • 可透過任何的數位資料匯流排,直接從固態硬碟串流傳輸熱數據,以使用FLIR Research Studio軟體進行進階的分析。



機型 X8580 InSb 1.5-5.0µm f/2.5 X8581 InSb 3.0-5.0µm f/2.5 X8582 InSb 1.5-5.0µm f/4.1 X8583 InSb 3.0-5.0µm f/4.1
解析度 1280 x 1024
偵測器間距 25µm
光譜範圍 1.5 – 5.0µm 3.0 – 5.0µm 1.5 – 5.0µm 3.0 – 5.0µm
偵測器類型 銻化銦(InSb)
F值 2.5 4.1
動態範圍 14位元
熱靈敏度NETD 典型30mK
全視窗影像更新率 可設定~0.5Hz – 181Hz
影像積分時間 可設定270ns -全畫面
標準溫度範圍(搭配匹配波段的鏡頭) -20°C – +350°C -20°C – +350°C
-10°C(顯微鏡)
-20°C – +350°C -20°C – +350°C
-10°C(顯微鏡)
選購的溫度範圍(搭配匹配波段的鏡頭) ND1: 45°C – 600°C;ND2: 250°C – 2,000°C;ND3: 500°C – 3,000°C
濾光片 4段電動暖色濾光片輪,標準1吋濾光片,可由使用者調換
對焦 電動(可兼容手動)
  • 詳細規格、配件、軟體與選購,歡迎洽詢,謝謝。

  • 直接記錄在本機記憶體和固態硬碟:
    • 可直接記錄長達34秒的全高清解析度資料影像到本機記憶體或長達15分鐘影像到標準配備的512GB SSD。
  • 同步及觸發:
    • 透過專用的觸發輸入與新型三級同步輸入,能輕易的捕捉基本資料及精準的控制影像畫面的產生。
  • 多種軟體介面:
    • 可透過任何的數位資料匯流排,直接從固態硬碟串流傳輸熱數據,以使用FLIR Research Studio軟體進行進階的分析。

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